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電子顯微鏡

透射電子顯微鏡掃描電子顯微鏡

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掃描/透射電子顯微鏡

更新時間：2023-12-26

型號：

瀏覽量：440

JEOL JSM-7610FPlus 掃描/透射電子顯微鏡采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。
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JEOL JSM-7610FPlus掃描/透射電子顯微鏡

更新時間：2023-12-26

型號：JEOL JSM-7610FPlus

瀏覽量：1265

JEOL JSM-7610FPlus 掃描/透射電子顯微鏡采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。
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JEOL JSM-7610FPlus 掃描電子顯微鏡

更新時間：2023-12-20

型號：

瀏覽量：2573

JEOL JSM-7610FPlus 掃描電子顯微鏡采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。
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JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡

更新時間：2023-12-20

型號：

瀏覽量：2455

JEOL JEM-ARM200F NEOARM 透射電子顯微鏡標配了冷場發射電子槍和全新的高階球差校正器。無論是在200kV的高加速電壓還是在30kV的低加速電壓下，均能實現原子級分辨率的觀察與分析。同時還配備了自動像差校正系統，采用像差校正算法，可以自動進行快速準確的像差校正。由此實現了高通量的原子級分辨率成像。
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