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掃描/透射電子顯微鏡

簡要描述：JEOL JSM-7610FPlus 掃描(miao)/透射電子顯(xian)微鏡采用(yong)(yong)半浸(jin)沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定(ding)的(de)高(gao)空間分(fen)辨率觀(guan)察和分(fen)析。此外還具備利(li)用(yong)(yong)GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓(ya)觀(guan)察、通過r-filter分(fen)選(xuan)信號(hao)等(deng)滿足各種需求的(de)高(gao)擴展性。

產(chan)品型號：JEOL JSM-7610FPlus
廠商性質：經銷商
更(geng)新時(shi)間：2023-12-26
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電子顯微鏡

透射電子顯微鏡掃描電子顯微鏡

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應用領域	電子,交通,航天,汽車,電氣

　　JEOL JSM-7610FPlus掃描/透射電子顯微鏡采用半浸沒式物鏡和High Power Optics照明系統，提供穩定的高空間分辨率觀察和分析。此外還具備利用GENTLEBEAMTM模式進行低加速電壓觀察、通過r-filter分選信號等滿足各種需求的高擴展性。浸沒式肖特基場發射電子槍，可以獲得10 倍于傳統肖特基場發射電子槍(FEG)的探針電流，光闌角控制鏡(ALC)在探針電流增大時也能保持小束斑，兩者組合起來能提供200 nA 以上的探針電流。強大的High Power Optics 系統，從高倍率圖像觀察到EDS分析和EBSD 解析可以一直使用高分辨率的小物鏡光闌而不需要改換。光闌角控制鏡(ACL)配置在物鏡的上方，在整個探針電流范圍內自動優化物鏡光闌的角度。因此，即使照射樣品的探針電流很大，與傳統方式相比，也能獲得很小的電子束斑。

　　JEOL JSM-7610FPlus掃描/透射電子顯微鏡規格：

　　1.二次電子像分辨率:0.8nm(加速電壓15kV)，1.0nm(加速電壓1kV ),分析時 3.0nm (加速電壓 15 kV, WD8mm, 探針電流5nA )

　　2.加速電壓:0.1～30kV

　　3.探針電流:數pA～200nA

　　4.電子槍:浸沒式肖特基場發射電子槍

　　5.透鏡系統:聚光鏡、光闌角控制鏡、半浸沒式物鏡

　　6.樣品臺:全對中測角樣品臺、5軸馬達驅動

　　7.電子檢測器系列:高位檢測器、r‐過濾器內置、低位檢測器

　　8.自動功能:自動聚焦、自動消象散、自動亮度/襯度調節

　　9.圖像觀察用:液晶顯示器

　　10.屏幕尺寸:23英寸寬屏

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