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Chroma 3650 SoC測試系統

簡要描述:Chroma 3650 SoC測試系統軟體測試環境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一個結合工程開發與量產需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:經銷商
  • 更新時間:2023-12-24
  • 訪  問  量:831

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詳細介紹

品牌Chroma/致茂產地類別進口
應用領域醫療衛生,化工,生物產業,電子,交通

Chroma 3650 SoC測試系統軟體測試環境CRISP(Chroma Integrated Software Plat form),是一個結合工程開發與量產需求 的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控制模 組、資料分析模組、程式除錯模組以及測試機 臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的設 計,CRISP提供多樣化的開發與除錯工具,包含 :Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組,可滿足研發/測試工程師開發程式時的需 求 ; 此外,Histogram tool 可用于重復任一測試 參數,包含時序、電壓、電流等,以評估其測試 流程之穩定度。

在量產工具的部份,透過特別為操作員所設計 的量產平臺,生 產人員可輕易地控制每個測試階段。它提供產品 導向的圖形介面操作,用來控制 Chroma 3650、 晶圓針測機和送料機等裝置溝通。程式設計者 可先行在Production Setup Tool視窗之下設定OCI 的各項參數,以符合生產環境的需求。而操 作員所需進行的工作,只是選擇 程式設計者已規劃好的流 程,即可開始量產,大幅 降低生產線上的學習的時 間。

Chroma 3650 SoC測試系統的特色:

  • 50/100MHz測試工作頻率
  • 512個 I/O 通道(I/O Channel)
  • 16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)
  • Per-Pin 彈性資源架構
  • 32 DUTS 平行測試功能
  • ADC/DAC 測試功能
  • 硬體規則模式產生器(Algorithmic Pattern Generator)
  • BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
  • 好學易用的 Windows XP 作業環境
  • 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
  • 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
  • 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
  • 即時pattern編輯器,含Fail pin/address顯示
  • 測試程式/測試pattern轉換軟體(J750, SC312)
  • 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot,Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool, Histogram tool等等
  • 實惠的VLSI和消費性混合信號晶片產品的測試方案

 

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