Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統在設計其架構時，應用先進 的規劃，具備AD/DA轉換器測試模組、ALPG記 憶體測試模組、高電壓PE輸出模組和多重掃描 鏈測試模組、類比測試模組等等選配，以確保 符合未來多年的測試需求。另Chroma 3650-EX具 有MRX(Mixed-Signal and Rf boX)模組，可實現從 設計端至量產端使用同一PXI平臺已減少因硬體 不同所造成的測試誤差。它的軟體測試環境CRI SP(Chroma Integr a ted Software Plat form)，是一個結合工程開發與量 產需求的軟體平臺。主要包含四個部份 : 執行控 制模組、資料分析模組、程式除錯模組以及測 試機臺管理模組。透過親切的圖形人機介面的 設計，CRISP提供多樣化的開發與除錯工具，包 含:Shmoo plot、Waveform tool、Scope tool、Pin Margin、Pattern Editor與Plan Debugger 等軟體 模組，可滿足研發/測試工程師開發程式時的需 求 ; 此外，Histogram tool 可用于重復任一測試 參數，包含時序、電壓、電流等，以評估其測試 流程之穩定度。

Chroma 3650-EX SoC/Aanlog測試系統特色：

• 50/100MHz測試工作頻率
• 1024個 I/O 通道(I/O Channel)
• 32M (64M Max.) Pattern 記憶體 (Pattern Memory)
• Per-Pin 彈性資源架構
• 512 DUTS 平行測試功能
• 96個電源通道
• 硬體規則模式產生器 (Algorithmic Pattern Generator)
• BIST/DFT掃描鏈(Scan Chain)測試模組選項
• 好學易用的 WINDOWS 7作業環境
• 每片 VI45 類比單板可支援8~32通道
• 每片 PVI100 類比單板可支援2~8通道
• 每片 HDADDA 混合訊號單板可支援32通道
• 彈性化的 MS C/C++ 程式語言
• 即時pattern編輯器，含Fail pin/address顯示
• 測試程式/測試pattern轉換軟體(J750-EX)
• 多樣化測試分析工具 : Shmoo plot, Waveform display, Wafer Map, Pin Margin,Scope tool,Histogram tool 等
• 實惠的SoC和消費性混合信號晶片產品測試方案